Test delle caratteristiche elettriche dei semiconduttori SMU unità S100 DC 30V 1A SMU misurazione
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1 unit
Tempo di consegna: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:Unità SMU di prova delle caratteristiche elettriche dei semiconduttori, Unità SMU DC S100, S100 Misurazione SMU 30V 1A
Test delle caratteristiche elettriche dei semiconduttori SMU unità S100 DC 30V 1A SMU misurazione
L'unità di misura delle sorgenti S100, elaborata meticolosamente da PRECISE INSTRUMENT, è un'eccellente rappresentante delle apparecchiature di prova nazionali.Si rompe il monopolio di lunga data della... Visualizza di più
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Unità DP100B con misurazione di tensione/corrente
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1 unit
Tempo di consegna: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:Misuratore di sorgente a doppio canale 30V 30A, DP100B Unità di misurazione della fonte, Unità SMU di tensione e corrente
Unità DP100B con misurazione di tensione/corrente
L'unità di misurazione dell'impulso di alta precisione DP100B a doppio canale è la nuova unità di misurazione dell'impulso di alta precisione, dinamica e di grandi dimensioni,unità di misura della sorgente digitale touch basata su un'unità di misura ... Visualizza di più
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18V 1A Quattro canali Sub Card Unità di misura della sorgente di impulso CBI403 SMU Misura
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1 unit
Tempo di consegna: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:18V 1A Misura della sorgente a quattro canali, Unità di misura della sorgente di impulso della scheda, CBI403 Misurazione delle PMI
18V 1A Quattro canali Sub Card Unità di misura della sorgente di impulso CBI403 SMU Misura
La sottokarte modulare CBI401 è un membro della famiglia delle unità di misura delle sorgenti (SMU) della serie CS, progettata per caratterizzare l'energia elettrica con elevata precisione e un ampio raggio di... Visualizza di più
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300A 30V alimentazione ad impulso sorgente di alta corrente HCPL030 per SiC IGBT GaN HEMT test
Prezzo: Negotiable
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Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:Fornitore di alimentazione a impulsi 300A 30V, Fonte di corrente alta 300A 30V, Fornitura di alimentazione a impulso di prova HEMT
300A 30V alimentazione ad impulso sorgente di alta corrente HCPL030 per SiC IGBT GaN HEMT test
L'alimentazione ad impulso ad alta corrente della serie HCPL030 è una fonte a impulso costante.con relè di controllo esterno), supporto per la misurazione della tensione di impulso a due canali (campioname... Visualizza di più
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1200V 100mA Unità di misura della sorgente di alimentazione ad alta tensione per la prova di tensione di rottura IGBT
Prezzo: Negotiable
MOQ: 1 unit
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Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:Unità di misura della sorgente di alimentazione ad alta tensione, Fonte di alimentazione ad alta tensione 1200V 100mA, Fonte di alimentazione ad alta tensione IGBT
Fonte di alimentazione ad alta tensione 1200V/100mA per la prova di tensione di rottura IGBT
L'E100 è un'unità di misura delle sorgenti ad alta tensione ad alte prestazioni progettata specificamente per ambienti di prova ad alta tensione.e misurare con precisione segnali di corrente debole fino a 1n... Visualizza di più
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20A CW / 20A QCW Prova di alimentazione laser HCPL002 alimentazione laser a diodo ad alta potenza
Prezzo: Negotiable
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Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:20A QCW Testing Laser Power Supply, Fornitore di alimentazione laser di prova 20A CW, HCPL002 Fornitore di alimentazione laser a diodo
20A CW / 20A QCW Prova di alimentazione laser HCPL002 alimentazione laser a diodo ad alta potenza
L'HCPL002 è un alimentatore laser ad alta potenza progettato per soddisfare le più esigenti esigenze di prova con tecnologia avanzata.e le correnti CW e QCW possono raggiungere fino a 20A, che fornisce ... Visualizza di più
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1MS/S A400 Data Acquisition Card 4 canali 16 bit ADC Resolution Daq Card
Prezzo: Negotiable
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Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:A400 Carta di acquisizione dati, 16 bit ADC Resolution Daq Card, Cartella di acquisizione dati 4 canali
1MS/S A400 Data Acquisition Card 4 canali 16 bit ADC Resolution Daq Card
La scheda di acquisizione dati A400 è un tipo di scheda plug-in progettata e sviluppata indipendentemente da Psysi, che supporta il campionamento a velocità variabile e la memorizzazione di dati di grande capacità.con 4 canali ... Visualizza di più
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LDBI Laser Aging Semiconductor Test Systems Sistema di prova multicanale
Prezzo: Negotiable
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Marca: PRECISE INSTRUMENT
Evidenziare:Sistemi di prova dei semiconduttori per invecchiamento laser, Sistemi di prova dei semiconduttori LDBI, Analisi del dispositivo di alimentazione multicanale
LDBI Laser Aging Semiconductor Test Systems Sistema di prova multicanale
LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and ag... Visualizza di più
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